CIX100 显微镜解决方案

简化技术清洁度

各类组件、液体及零部件的清洁度对于制造的每一个环节至关重要，即便微米大小的颗粒也可能缩短零部件寿命或影响其性能。 严格的国际和国家规范明确了污染物的测量和记录方式，并要求详细的了解颗粒数量、尺寸分布和特征。

CIX100 检测系统为此过程带来了保障——它是一个一站式、高效的解决方案，可以轻松满足现代清洁度标准。 借助先进的深度学习人工智能技术，CIX100 检测系统将颗粒识别提升到了一个全新水平，提供洞察，帮助团队从源头保护质量。

卓越的光学质量

我们的 UIS2 物镜具有优异的光学性能，可实现卓越的测量和分析精度。 系统配备专用光源，能够保持一致的色温，适用于清洁度检测。 该功能支持对圆形和矩形样品区域进行快速检测。

机械稳定性

光路校准、电动物镜转换器和相机配备防护罩，以防止意外改动。 为了提高稳定性，剔除了光路中的所有活动部件。

定期系统验证

预配置且预校准的系统配备系统自检自动提醒功能，并结合集成的校准滑片，有助于进行定期系统验证。

可再现性和可重复性

预配置和预校准的系统、用户权限管理以及定期系统自检，有助于确保设置正确，从而获得不受操作员或仪器影响的可再现性检测数据。 因此，多个部门和站点可以在不同地点采用相同的质量标准。

适用于多种常用采样方法

CIX100 支持适用于圆形或矩形采样区域的采样技术。 可选择适用于直径 25 mm、47 mm 和 55 mm 滤膜的白色或黑色背景支架；胶带提升采样支架；适用于冶金应用的平面支架；以及适用于颗粒捕集的支架。

顶图和中图： 白色和黑色背景的圆形样品架，可使用直径为 25 mm、47 mm、和 55 mm 的滤膜。左下图： 用于颗粒捕集器的圆形样品架。 右下图： 矩形样品架，用于胶带剥离取样。

*^{不同地区胶带剥离支架的可获性可能不同。}