OLS5500全新一代 精准测量 激光共聚焦显微镜

高清成像，检测更多

可利用WLI（垂直）、LSM（水平）和FVM（宏观到微观）测量任意尺寸（纳米至毫米）及形貌（平坦或不平坦）的样品。

专用 LEXT 物镜能够精准测量边缘区域，克服了传统物镜面临的测量挑战。

高数值孔径白光干涉(WLI) 物镜（最高可达 0.8 NA）即使在陡峭或纹理表面上，也能产生清晰的干涉条纹和卓越的相位稳定性。

精准测量，结果更准

无论测量倾斜角度大的样品、反射表面还是复杂结构，我们自主研发的物镜能够保持整个视场的清晰度和形状保真度。

OLS5500可同时保障LSM和WLI两种成像模式在用户现场的测量性能。

丝滑体验，效率更高

流程向导式用户界面，只需自上而下遵循操作步骤，即可轻松完成设备操作。

测量自动化提升重复测量效率，并实现更稳定的测量结果。